智力低下有哪些檢測方法
智力低下是一種常見的,而且對患者的生活造成很多的傷害,遠(yuǎn)離智力低下工作成了我們生活中不可缺少的,因此很多人對于智力低下不了解。智力低下是發(fā)生在很多人身上,嚴(yán)重威脅患者健康。智力低下有哪些檢測方法呢?
篩查法
按通用的智力測驗方法檢查時,往往需要較長的時間,有時需1~2小時以上,不利于一般兒科醫(yī)生或小兒保健普查時應(yīng)用,所以采用一些簡易的篩查方法。測試的內(nèi)容大多是從各種經(jīng)典的智力測驗方法中選出。測驗時僅須較短的時間,可以初步篩查出可疑病例。篩查結(jié)果只能做為需要不需要進(jìn)一步檢查的依據(jù),不能據(jù)此而做出診斷。目前國內(nèi)常用的篩查方法有以下幾種。
(1)丹佛智力發(fā)育篩查法(Denver developmental screening test,DDST):適用于初生至6歲小兒,方法操作簡便,花費時間少,工具簡單,信度和效度均好。此法已被世界各地廣泛采用。我國于80年代初開始應(yīng)用此法。根據(jù)我國社會、經(jīng)濟(jì)、語言、文化、教育方法和地理環(huán)境的特點,將DDST進(jìn)行了標(biāo)準(zhǔn)化處理,并繪制了小兒智力發(fā)育篩查量表 (DDST-R)。
(2)繪人測驗:根據(jù)畫出的人形進(jìn)行評分,判斷智力發(fā)育水平,適用于5~12歲兒童智力篩查。年齡較小的孩子有得分偏高而年齡較大小兒有得分偏低的趨勢。引測驗與其他智力量表測驗所得的IQ有明顯的相關(guān)性。
診斷法
(1)韋氏兒童智力量表(WISC-CR):適用于6~16歲兒童。
(2)中國-韋氏幼兒智力量表(CWYCSI):適用于4~6歲半兒童。
(3)嬰幼兒發(fā)育檢查量表(Gessell ScaleR)適用于0~3歲兒童。
適應(yīng)行為評定法
1.嬰幼兒-初中學(xué)生社會生活能力量表適用于6個月~13歲至15歲兒童。此量表是診斷MR及分級不可缺少的工具。
2.新生兒行為神經(jīng)評分法(NBNA) 全國協(xié)會組已通過調(diào)查研究,確定了全國新生兒NBNA正常范圍,其臨床應(yīng)正在逐步開展。
智力低下這種疾病導(dǎo)致原因是很多的,智力低下在臨床醫(yī)學(xué)上人們不陌生了,而且智力低下是一種對人體的傷害很大疾病,而且智力低下還嚴(yán)重影響患者的心理健康,給患者造成很大的壓力和困擾。
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